机译:在水表面对IgG共轭金纳米颗粒的原位SEM和ToF-SIMS分析
机译:使用SEM和ToF-SIMS在真空下探测液体表面
机译:通过SEM,XPS和ToF-SIMS分析,在制浆和精制过程中纤维表面的改性
机译:SEM-EDS,AES和ToF-SIMS示踪TiO_2纳米颗粒表面和大块中的氟
机译:使用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)和原子力显微镜(AFM)表征聚合物表面。
机译:XPS和ToF-SIMS对聚合物共混物的表面表征
机译:Xps和ToF-sIms对聚合物共混物的表面表征